Configurando Variáveis do CEP

  1. Na exibição inicial, vá para a aba Reports (Relatórios) e selecione Statistics (Estatísticas) no painel esquerdo.

  2. Selecione o ícone plus (sinal de mais), no canto superior direito da tela.
    A janela SPC Variable (Variável do CEP) mostra a nova variável.

  3. Na caixa Name (Nome), digite o nome do variável.
    O nome da variável é o cabeçalho da janela SPC Variable (Variável CEP).

  4. Selecione um Tightening Program (Programa de Aperto).
    A janela Tightening Program (Programa de Aperto) aparece e relaciona todos os programas de aperto de múltiplas etapas armazenados no controlador e disponíveis para cálculos estatístico.
    Selecione o programa de aperto de múltiplas etapas da nova variável.

    O Programa de Aperto deve ser um programa de múltiplas etapas.

  5. Selecione Virtual Station (Estação Virtual).
    A janela Virtual Station (Estação Virtual) aparece.
    Selecione a Estação Virtual onde os foram gerados.

    As estatísticas baseiam-se em resultados produzidos pela Estação Virtual, que apresenta o seguinte tipo de licença atribuído:

    • Controle do Processo

  6. Selecione Monitor.
    A janela Monitor aparece.
    Selecione um dos seguintes monitores de programa em que o cálculo do CEP se baseia:

    • Etapa Monitorar pico de torque

    • Etapa Monitorar ângulo

    • Final torque (Torque final)

    • Final angle (Ângulo final)

    • Programa Monitorar torque

    • Programa Monitorar ângulo

    Ao selecionar Step monitor peak torque (Pico de torque do monitor de etapas) ou Step monitor angle (Ângulo do monitor de etapas), na caixa Step number (Número da etapa), insira o número da etapa necessária do programa de aperto a partir do qual lê-se o valor.

    Utilize os relatores de resultados para produzir efeitos nos seguintes valores de monitor: Final torque (Torque Final) e Final angle (Ângulo Final).

  7. Selecione Edit limits (Editar limites).
    A janela Variable configuration (Configuração da variável) aparece.
    Para cálculos e análise dos resultados, defina os seguintes limites para cada valor de interesse.

Na janela Tolerance limits (Limites de tolerância), defina os seguintes limites (usados no cálculo das capacidades Cp e Cpk do processo):

  • Upper Tolerance Limit (UTL) (Limite de Tolerância Superior (UTL)): uma quantidade definida pelo usuário que identifica o valor mais alto aceitável de uma atributo do produto).

  • Lower Tolerance Limit (LTL) (Limite de Tolerância Inferior (LTL)): uma quantidade definida pelo usuário que identifica o valor mais baixo aceitável de uma atributo do produto).

Na janela Control limits (Limites de Controle), ative ou desative a chave seletora Auto calculate (Calcular automaticamente).
Caso a chave seletora Auto calculate (Calcular automaticamente) seja definida como Yes (Sim), os limites de controle são automaticamente calculados).
Caso a chave seletora Auto calculate (Calcular automaticamente) seja definida como No (Não), defina os seguintes limites:

  • Mean - Upper control limit (Média - Limite de controle superior): uma medição determinada estatisticamente que aparece como uma linha horizontal tracejada acima da média do processo.

  • Mean - Lower control limit (Média - Limite de controle inferior): uma medição determinada estatisticamente que aparece como uma linha horizontal tracejada abaixo da média do processo.

  • Range - Upper control limit (Intervalo - Limite de controle superior): uma medição determinada estatisticamente que aparece como uma linha horizontal tracejada acima da média do processo.

  • Range - Lower control limit (Intervalo - Limite de controle inferior): uma medição determinada estatisticamente que aparece como uma linha horizontal tracejada acima da média do processo.

  • Sigma - Upper control limit (Sigma - Limite de controle superior): uma medição determinada estatisticamente que aparece como uma linha horizontal tracejada acima da média do processo.

  • Sigma - Lower control limit (Sigma - Limite de controle inferior): uma medição determinada estatisticamente que aparece como uma linha horizontal tracejada abaixo da média do processo.

Na janela Capabilities (Capacidades), defina os seguintes limites:

  • Cp: o índice Cp fornece a capacidade do processo: é o número de vezes em que a dispersão do processo fica dentro do intervalo de tolerância (Upper tolerance limit (Limite de tolerância superior - Lower tolerance limit (Limite de tolerância inferior)). Quanto maior o valor de Cp, melhor o processo.

  • Cpk: o índice Cpk fornece a capacidade do processo corrigida para a posição. Não é muito útil ter um índice Cp alto se a configuração do processo está muito descentralizada em relação ao meio do intervalo de tolerância. Um índice Cpk alto significa, então, que você tem um bom processo, com uma pequena dispersão em relação à largura de tolerância, e também que está bem centralizado no intervalo (Upper tolerance limit (Limite de Tolerância Superior) - Lower tolerance limit (Limite de Tolerância Inferior)). Se Cpk for igual a Cp, o processo está ajustado para produzir exatamente no meio do intervalo de tolerância.