查看统计结果
在工厂结构工作区 中选择一个控制器,然后在菜单栏中选择统计。
计算统计数据后,可以在结果选项卡中查看统计结果。
统计结果通过不同的图表显示:HISTOGRAM、XBAR-R 和 XBAR-S。统计结果未存储在控制器或 ToolsTalk 2 中,但 ToolsTalk 2 最多可将每个控制器的 10 个最新统计结果存储在内存中。
柱状图
柱状图显示针对大量类别所监视到的频率,以及目标、正态分布曲线和大量限值。
柱状图是一系列柱形,每个矩形的宽度与类中的值范围成比例,高度与类中的样本数成比例。柱状图显示了任何过程内的变化量。柱状图很有用,因为它强调并阐明了表格中不容易识别的趋势。
图例 | 说明 |
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常规分布 | 从样本集合计算出的高斯曲线。根据统计计算和概率显示样本的理论分布。 |
平均值 | 样本集合的总体平均值。 |
+/- 3 Σ | 正态分布定义的一部分,指出 99.7% 的样本集合预计在平均值的 +/- 3 个标准偏差之间。 |
目标 | 拧紧程序目标值。 |
公差限值 | 在 SPC 变量配置中定义。 |
XBar-R
XBar-R 控制图表同时显示每个子组的平均值 (Xbar) 和范围 (R)。这是使用非离散或连续值的最常见的控制图表类型。图表的 Xbar 部分显示了过程平均值的任何变化,而 R 部分显示了过程离散度的任何变化。
该图表特别有用,因为它同时显示了过程的平均值和离散度的变化,使它成为检查过程中异常的非常有效的方法。
图例 | 说明 |
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平均值 | 样本集合的总体平均值。 |
控制限值 | 在 SPC 变量配置中定义。可以自动计算或手动计算。 |
目标 | 拧紧程序目标值。 |
中心线 | 子组的平均范围。 |
XBar-S
XBar-S 控制图表同时显示每个子组的平均值 (XBar) 和标准偏差 (S)。
XBar-S 图表与 XBar-R 图表相同,不同之处在于 XBar-S 显示标准偏差而不是范围。
图例 | 说明 |
---|---|
平均值 | 样本集合的总体平均值。 |
控制限值 | 在 SPC 变量配置中定义。可以自动计算或手动计算。 |
目标 | 拧紧程序目标值。 |
中心线 | 子组的平均范围。 |
计算统计值
大量的计算统计关键值显示在柱状图、XBar-R 图表和 XBar-S 图表下方的信息框中。
计算统计值包括:
Min = 所有采集的样本值的最小值
Max = 所有采集的样本值的最大值
Mean =
Mean+3Sigma = + 3*stdDev
Mean-3Sigma = - 3*stdDev
Cp(在 XBar-R 图表中,该值基于范围,在 XBar-S 图表中,该值基于西格玛)
Cpk(在 XBar-R 图表中,该值基于范围,在 XBar-S 图表中,该值基于西格玛)
中心线 = 在范围部分 ,在西格玛部分
目标(如果可用,则为监视器的目标值)
标准偏差 = 总标准偏差 = stdDev