記号及びモデル名称
ソフトウェアGUIで使用される記号と名称は次の通りです。
記号 | 説明 |
|---|---|
CL | 中心線 |
Cp | 工程能力指数 |
Cpk | 最小工程能力指数 |
k | サブグループの数 |
LCL | 下側管理限界 |
LSL | 製品の下側規格限界 |
n | サブグループのサンプルサイズ |
N | 観測値の総数 |
R | サブグループ観測値の範囲：最大観測値と最小観測値の差 |
Ṙ | サブグループのR値の算術平均 |
s | サブグループ内のサンプル標準偏差 |
St | サンプル（合計/全体）標準偏差 |
σ | サンプルが採取される母集団の標準偏差 |
σ̂ | サンプルが採取される母集団の推定標準偏差 |
σt | 推定（合計/全体）標準偏差 |
UCL | 上側管理限界 |
USL | 製品の上側規格限界 |
X | 測定された品質特性値、X1、X2 ..、XNで示されるさまざまな観測値 |
̅X̅ | サブグループのサンプル観測値の算術平均 |
̿X̿ | サンプル観測値の合計算術平均 |
